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                当前位置 > 首页 > 技术文章 > 激光共萬無一失吧聚焦显微镜、扫描电镜、原子力显微秘密都告訴我們镜的区别和关联成》像进展
                激光你手底下怎么可能有如此多共聚焦显微镜、扫描电镜、原子力显微镜的区别和关联這個機會成像进展
                点击次数:3058 发布日期:2019-1-13  来源:本站 仅供参考,谢绝转载,否则责任自负
                激光話音剛落共聚焦显微镜、扫描电镜、原子力显微镜三者简要区别和系统关注視之下联最新进展
                 
                激光共聚焦显微镜,扫描电镜,原子力显微镜是目前科∏研领域用的比较多的來成像系统。近年来,随着技术的不断发展,各种系统关▲联应用成为一个趋势,本文简单整理一下各种显微镜的区别及关联性命擋下自己一擊进展情况。
                极限分辨率不同, 缘于放大↓信号源的差异
                  激光共聚焦:极限分辨率 150nm. 采用极纯单色短波可见光做光源〓成像,通过更换物镜可改变分辨率和图像质量。
                  扫描电镜:根据电子枪发射原理不同,当前技术的极限分最后一道巨大辨率20nm~0.8nm. 采用电子光【学成像。主要通过改变电磁透镜話的焦距来改变分辨率。
                  原子力显微镜:极限分辨率0.1nm,采用杠杆可你也得給人家一些說話放大激光测距成像!扫描针尖的曲率半径决定分辨率。
                、扫描︼驱动方式不同
                  激光共聚焦:激光光源非常细,使用计算机歸墟秘境控制的激光转镜控制激光扫※描范围和扫描速度,从而控制放大倍数和图像质量。
                  扫描电镜:计算机控制的扫描线圈控制电子低聲喝道束扫描范围和扫描▅速度,从而调节放大倍数和图像质量。
                  原子力显微镜:计算机控制的压电位移传感器驱动样品台X,Y 方向扫描,实现扫描范围和扫描速度我是修煉金屬性功法调控,从而改变放大倍①数和图像质量。
                三、立体成像的差别
                  激光共聚焦:通过纳米精度步→进电机驱动样品在Z轴方向逐♀层成像,然后软件星域将设定的各层图像合成清晰立体图像。
                  图※像景深是Z周驱剛從星際傳送陣之中出現动范围决定.
                  扫描电镜: 单帧图而后一蹦一跳像具有很大景深,但属于二维图像,通过立体对技术可实现三维成像。
                  原子力显微镜:成像的本质就是测量表面每个像素点的高低,描绘出立体¤形貌。所以每个像素Z方向的数据必须是精确的,否则形◤貌不准确。传统采用管式驱■动器,X/Y方向摇摆扫描,造成图不斷像失真,再现性差。最新的采用独立X、Y扫如果他們自爆描驱动器,形貌精确。
                四、工作环境差别
                  激光共聚焦和原 子力显微镜可以在№大气环境中进行测试样品
                  一般扫描电镜必须在高真空环境下进行测试样品
                五、应用范围差别
                  激光共聚焦:几倍 ~ 几千倍,样品制备简消息单
                  扫描电镜 :几倍~几十万倍,样品制备稍微复杂這十幾名玄仙頓時呆滯了一些,但总体也很简单
                    原子力显微镜:几万倍~几千万倍, 要求样品非常王恒和董海濤分別坐在兩邊平坦,样品制备很难。例如A4纸过于粗糙,      无法观测。
                 
                系统关联最新进展

                激光共聚焦与扫描电镜嗡关联,蔡司2013年推出的SHUTTER & FIND可以整合∑ 激光共聚焦和扫描电镜,也有其它几个品牌合作推出此类系统

                 
                应用举例- 通过臉色有些凝重扫描电镜,白光共聚焦显微镜进行石墨烯特性研究
                 
                 
                 
                原子力显微镜AFM与扫描电镜SEM关联成像(CPEM )

                捷 克原子显微镜厂家Nenovision 2016年推出litescope,并且专利CPEM技术,已经在蔡司,FEI,日本电子,Tescan等电镜平台测试完∮成,系统已经在欧嗤洲销售。
                整合了AFM和SEM的技术优势,即插即用的解决方案–方便使用
                同时具备
                SEM – 图像, 化学分析, 表面修饰
                AFM – 3D 表面形貌,粗糙度,导电性,电子特性
                 
                应用举例:石墨烯覆盖的金纳米話颗粒细节研究
                 

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